Основные свойства:
| Плотность (г/см³) | 4.51 | Температура плавления (°C) | 621 |
| Плоскость раскола | Отсутствует | Твердость (по шкале Мооса) | 2 |
| Гигроскопичность | Слегка | Показатель преломления на пике излучения | 1.95 |
| Длина волны пика излучения (нм) | 315 | Нижнее значение длины волны (нм) | 260 |
| Время затухания (нс) | 16 | Световой выход (фотонов/МэВ/γ) | 2x10^3 |
| Коэффициент теплового расширения (K^-1) | 49x10^-6 | Выход фотоэлектронов (% от NaI(Tl), γ-лучи) | 4~6 |
| Послесвечение (через 20 мс) (%) | 2x10^3 |
Спектр излучения чистого CsI, CsI(Tl) и CsI(Na):
%20Scintillators34.jpg)
CsI (йодид цезия) сцинтилляционный кристалл, как один из представителей класса сцинтилляторов CsI, является сцинтилляционным материалом с диапазоном излучения между ультрафиолетовым и видимым спектром. Пик излучения неактивированного CsI находится в пределах 310–420 нм, в зависимости от типа взаимодействия с излучением и источника возбуждения. Световой выход умеренный по сравнению с легированными CsI, такими как CsI(Tl) или CsI(Na), но все же достаточный для некоторых детекторных применений.
Наиболее заметное преимущество чистого, неактивированного CsI по сравнению с легированными CsI(Tl) и CsI(Na) — это возможность использования в приложениях, требующих высокой временной точности, благодаря исключительно малому времени затухания. Кроме того, неактивированные CsI-кристаллы демонстрируют уникальное сочетание быстрых и медленных компонентов люминесценции. Излучение состоит из быстрого собственного свечения (10 нс) с пиком около 305 нм и медленного компонента (100–4000 нс) в диапазоне 350–600 нм. Быстрый компонент 10 нс делает чистый CsI отличным выбором для измерений, чувствительных ко времени.
Кроме того, как плотный материал с высоким атомным номером, CsI обеспечивает высокую останавливающую способность, что вместе с быстрым временем реакции и хорошей радиационной стойкостью делает CsI отличным выбором для высокоэнергетических физических экспериментов.
Слабостью неактивированного CsI по сравнению с Tl- или Na-легированным CsI является более низкий световой выход, поэтому чистый CsI выбирают, когда приоритетом является временное разрешение, а не интенсивность света. Еще один недостаток чистого CsI — его спектр излучения может не полностью соответствовать фотодетекторам.
CsI — мягкий и пластичный материал без естественных плоскостей раскола, что обеспечивает его прочность, подходящую для геофизических исследований, космических экспериментов и других приложений с сильными ударными нагрузками. Чистый CsI также значительно менее гигроскопичен по сравнению с CsI(Tl), однако защитное покрытие или инкапсуляция могут быть полезны.
Hangzhou Shalom EO поставляет индивидуально изготовленные CsI сцинтилляционные кристаллы размером до диаметра 90 мм x длина 300 мм и более. На этой странице представлены наши неактивированные CsI, при этом мы также предоставляем CsI(Tl)/Таллий-легированный CsI и CsI(Na)/Натрий-легированный CsI. CsI(Tl) может выращиваться до размеров 400 мм x 400 мм x 100 мм. Неактивированные CsI-кристаллы Shalom EO обладают премиальными сцинтилляционными свойствами с пиком излучения на длине волны 315 нм, высокой останавливающей способностью и быстрым временем реакции. Время затухания кристаллов CsI составляет 16 нс, что оптимизировано для специализированных применений в высокоэнергетической, ядерной, космической и медицинской физике, требующих точного измерения времени.
В Shalom EO мы используем экологичный метод Бриджмена для массового выращивания CsI. Наш промышленный опыт и производственные возможности позволяют создавать кристаллы индивидуальных форм и размеров, соответствующие вашим требованиям, при этом обеспечивая контроль качества на каждом этапе производства. Доступны кристаллы нестандартной формы, отражатели, а также совместимая электроника или фотодетекторы (PMT, SiPM или PD). Мы также предоставляем одномерные линейные массивы CsI и двумерные плоские массивы CsI.
Сравнительная таблица свойств CsI, CsI(Tl) и CsI(Na):
| Параметры | CsI(Tl) | CsI(Na) | CsI (неактивированный) |
| Плотность | 4.51 | 4.51 | 4.51 |
| Температура плавления (°C) | 621 | 621 | 621 |
| Коэффициент теплового расширения (K^-1) | 54x10^-6 | 49x10^-6 | 49x10^-6 |
| Плоскость раскола | Отсутствует | Отсутствует | Отсутствует |
| Твердость (по шкале Мооса) | 2 | 2 | 2 |
| Гигроскопичность | Слегка | Да | Слегка |
| Длина волны пика излучения (нм) | 550 | 420 | 315 |
| Нижнее значение длины волны (нм) | 320 | 300 | 260 |
| Показатель преломления на пике излучения | 1.79 | 1.84 | 1.95 |
| Время затухания (мкс) | 1 | 0.63 | 0.016 |
| Послесвечение (через 20 мс) (%) | <0.5 (нормально) | 0.5~5.0 | / |
| Световой выход (фотонов/МэВ/γ) | 52~56x10^3 | 38~44x10^3 | 2x10^3 |
| Выход фотоэлектронов (% от NaI(Tl), γ-лучи) | 45 | 85 | 4~6 |